靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備

ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了表征、可定制選項和易用性等特點，可提供快速、準確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計量方法。ContourX-200還配有分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能，可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測量分析。

高性能表面計量

* 與放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率

* 大尺寸的標準視場

* 穩(wěn)定集成防震設(shè)計

高性能測量與分析功能

* 易于使用的界面，可快速準確地獲得結(jié)果

* 自動化功能用于日常測量和分析

* 廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告